Испытательный центр «Прибор-Тест», орган по сертификации
Аккредитован Росаккредитацией
Испытания и сертификация: ЭМС, безопасность, ВВФ, взрывозащита, Ex, выездные испытания по ЭМС
Испытания общепромышленного и медицинского оборудования, оборудования для атомных станций, электрического и электронного оборудования автотранспортных средств
8 499 403-11-10
Испытательный центр


8 499 645-54-23
Орган по сертификации
Аккредитован Росаккредитацией
Испытания и сертификация: ЭМС, безопасность, ВВФ, взрывозащита, Ex, выездные испытания по ЭМС

Главная / Виды испытаний / Электромагнитная совместимость (ЭМС) / Наносекундные импульсные помехи

Наносекундные импульсные помехи

Наносекундные импульсные помехи (НИП) являются результатом дуговых разрядов, которые появляются при размыкании контактов реле или выключателей. НИП являются распространенным явлением для условий промышленных производств, при которых электромеханические переключатели используются для коммутации различных индуктивных нагрузок.

ГОСТ 30804.4.4-2013 (IEC 61000-4-4:2004) определяет устойчивость к НИП не только линий электропитания, но и портов ввода-вывода. Для формирования импульсов используется генератор с номинальным сопротивлением 50 Ом. Нормирование параметров импульсов также проводится с нагрузкой 50 Ом.

Импульсы перенапряжений подаются на вход испытуемого устройства «пакетами». Частота следования импульсов внутри «пакета» составляет 5–100 кГц. Длительность самого «пакета» — ~15 мс, а период его повторения — 300 мс. Каждый импульс имеет экспоненциальную форму и характеризуется временем нарастания 5 нс и общей продолжительностью 50 нс. Емкостные клещи обеспечивают возможность подачи наносекундных импульсных помех без гальванического подключения к испытуемому устройству.

Назад